ترجمه مقاله بررسی نانوکریستال ها با استفاده از الیپسومتری طیف نما

عنوان انگلیسی مقاله: Characterization of Nanocrystals Using Spectroscopic Ellipsometry

عنوان فارسی مقاله: توصیف نانوکریستال ها- با استفاده از الیپسومتری طیف نما.

دسته: شیمی

فرمت فایل ترجمه شده: فایل Word ورد 2007 یا 2003 (Docx یا Doc) قابل ویرایش

تعداد صفحات فایل ترجمه شده: 14

جهت دانلود رایگان نسخه انگلیسی این مقاله اینجا کلیک نمایید

ترجمه سلیس و روان مقاله آماده خرید می باشد.

_______________________________________

چکیده

اولین کاربرد الیپسومتری برای اندازه گیری پوشش های نازک پلی- و نانوکریستال به دهه ها پیش بر می گردد. مهمترین گام در مسیر تحقیقات الیپسومتری پوشش های نازک کامپوزیت، شناخت اولین الیپسومتری طیف نما در دهه 70 بوده است [3, 4, 8]، که امکان اندازه گیری نقش دی الکتریک را امکان پذیر ساخت، که جزء انگاری آن مستقیما در ارتباط با حساسیت وضعیت چگالی مشترک الکترونیک بوده که بستگی به تغییرات ساختار کریستال دارد. اولین مدل ها بر مبنای روش میانگین موثر با استفاده از عوامل سارنده توابع دی الکتریک [5] بوده، درحالیکه بخش حجیمی از موئلفه ها در ارتباط با ویژگی های کریستال با پوشش نازک می باشند. این روش بر مبنای نیرومندی اش، محبوب می باشد.  

ادامه دارد (Full-text)